超声波测厚仪的校准

超声波测厚仪所测工件表面粗糙度过大，造成探头与接触面耦合效果差，反射回波低，甚至无法接收到回波信号。

对于表面锈蚀，耦合效果*差的在役设备、管道等可通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理，降低粗糙度，同时也可以将氧化物及油漆层去掉，露出金属光泽，使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。

超声波测厚仪如何校准

选择与被测物的材料、声速及曲率相同的两个标准试块，其中一个试块的厚度等于或略高于测量范围的上限；另一个试块的厚度尽可能接近测量范围的下限，进行二点校准可以提高测量精度。

2.进行二点校准之前应先关闭zui小值捕捉功能。

3.一定要删除以前的校准数据

操作如下：选择功能菜单存储管理中的删除校准数据功然后将二点校准功能打开。

4.打开二点校准功能。

5.按键返回主显示界面。

6.在测量厚度的状态下按进入两点校准方式，

屏幕提示校准薄片ThinCalibration。

7.测量薄片。用或调整测量值到标准值。

然后按键屏幕提示校准厚片ThickCalibration.

8.测量厚片。用或调整测量值到标准值。

9.按键两点校准过程完成，即可进行测量状态。

注意：测量管材时，由于声阻抗的匹配和耦合的情况会影响测量误差，为了准确测量管材的厚度，在测量管材时我们尽量选择与被测物的材料、声速及曲率相同的两个标准试块进行二点校准。