覆层厚度的测量方法

漆膜测厚是一件很难解决的技术问题，覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。

这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的漆膜测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。

测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。

利用磁感应原理的漆膜测厚仪 ，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。涡流法测厚仪是高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。

测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。

漆膜测厚仪不仅速度快，精度高，还比较稳定，漆膜测厚仪的精度和使用的稳定性不低于国外的同类型产品，为使产品国际化；

我国出口商品和涉外项目中，对生产有了明确的要求，也按照国家的要求定时的检查，保证其质量，满足顾客的要求。