分立器件筛选检测检验测试报告

分立器件筛选检测测试哪些指标？检测报告如何办理？检测费用多少？百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

检测报告图片

外观、温度循环试验、老炼试验试验、高温反偏试验、高温贮存试验、低温测试、密封-粗检漏、密封-细检漏、温度循环、老炼、高温反偏、高温测试、密封性检测、老炼试验、高温寿命（非工作）、外观及机械检验、稳态工作寿命、老炼和寿命试验（IGBT)、老炼（二*管、整流管、稳压管）、老炼（晶体管）、老炼（闸流晶体管）、芯片目检（半导体二*管）、高温寿命、外观及机械检查、密封

1、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1071

2、GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

3、GJB128A-97 半导体分立器件试验方法 方法2071

4、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

5、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法5004.2

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。如果是用于过电商平台，一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

检测流程