模拟集成电路检测报告测试项目标准

2023-07-07  |  来源:互联网 139浏览
摘要:模拟集成电路检测报告测试哪些项目?测试标准有哪些?我们也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。我们只做真实检测。

模拟集成电路检测报告测试哪些项目?测试标准有哪些?我们也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。我们只做真实检测。

检测项目:

串扰衰减、共模抑制比、开环电压放大倍数、时间参数、电压参数、电流参数、电源电压抑制比、纹波抑制比、调整/稳定系数、调整输出电压温度系数、谐波失真、阻抗参数、频率参数、偏置电压、共模输入电压范围、基准电压、备用电流(静态电流)、导通态电流、导通时间、截止态电流、截止时间、电源电流、输入偏置电流、输入失调电压、输入失调电流、输出电压*大变化率、输出电压范围、静态导通态电阻、输入失调电压和偏置电压、输入失调电流 两种方法、输入偏置电流 两种方法、输入失调电压温度系数、输入失调电流温度系数、开环电压放大倍数 两种方法、共模抑制比 两种方法、电源电流抑制比 两种方法、短路输出电流、输入偏置电流温度系数、截止频率、关断时间、复位电压、复位电流、导通态漏电流、导通电阻、导通电阻路差、开启时间、开环电压增益、截止态源*漏电流、截止态漏*漏电流、控制端电压、满量程总误差、电压调整率、电流调整率、触发电压、触发电流、输出峰峰电压、输出电压转换速率、输出短路电流、阈值电压、阈值电流、馈通误差、共模抑制比KCMR、基准电压VREF、备用消耗电流ID、导通电阻Ron、差模开环电压增益AVD、截止态漏*漏电流ID(off)、电压调整率SV、电流调整率SI、电源电压抑制比KSVR、纹波抑制比Srip、输入偏置电流IIB、输入失调电压VIO、输入失调电流IIO、输出峰-峰电压VOPP、静态功耗PD、偏置电流Ibias、共摸抑制比kCMR、共摸输入电压范围、关断时间toff、基准电压Vref、复位电压VR、复位电流IR、失调电压Vos、失调电流Ios、导通态漏电流IDS(on )、建立时间tset、开启时间ton、截止态源级漏电流IS(off)、截止态漏级漏电流ID(off)、控制端电压VC、模拟电压工作范围VA、线性误差EL、触发电压VTR、触发电流ITR、通道转换时间tT、阀值电压VT、阀值电流IT、馈通误差EF、偏置电流Ibias、共摸抑制比KCMR、共摸输入电压范围VIC 、共模抑制比CMRR、共模输入电压Vicm、关断时间toff、基准电压Vref、复位电压VR、复位电流IR、失调电压Vos、失调电流Ios、导通态漏电流IDS(on )、导通电阻Ron、导通电阻路差ΔRon、建立时间tset 、开启时间ton、截止态源级漏电流IS(off)、截止态漏级漏电流ID(off)、控制端电压VC、模拟电压工作范围VA、正输入电流Ib+、电压调整率Reg/ln、电流调整率Reg/ld、电源电压抑制比PSRR、线性误差EL、触发电压VTR 、触发电流ITR、负输入电流Ib-、转换速率SR、通道转换时间tT 、阀值电压VT、阀值电流IT、馈通误差EF、响应时间

检测标准:

1、GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 5.8

2、GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 4.10

3、GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 4.5

4、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路 Ⅳ 第二节 5

5、GB/T14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 2.1

6、GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1

7、GB/T 17940-2000、IEC 748-3:1986 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第IV篇 第3节 6

8、GB/T17940-2000 半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路 Ⅳ 3

9、GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 2.8

10、GB/T4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 4.10

11、GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 4.9

12、GB/T 17940-2000(IEC 60748-3:1986) 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第Ⅳ篇第2节18、第4节5

检测报告用途

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

检测费用价格

因测试项目及实验复杂程度不同,具体请联系客服确定后进行报价。

检测流程

检测流程