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微电子器件检测报告测试哪些项目?测试标准有哪些?我们也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。我们只做真实检测。
检测项目:密封、温度循环、稳定性烘焙、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、盐雾、耐湿、内部目检(单片)、内部目检(混合电路)、恒定加速度、无源元件的目检、破坏性物理分析(DPA)的内部目检、芯片剪切强度、键合强度(破坏性键合拉力试验)、高温电老炼、部分参数、低气压(高空工作)、温度循环(空气介质)、热冲击(液体介质)、稳态寿命、绝缘电阻、耐湿试验、振动、内部目检、间歇寿命、检漏、电功率老化、X射线无损检测、塑封器件的超声扫描检测、引线牢固性、机械冲击、热冲击、外部目检、密封-粗检漏、密封-细检漏、扫频振动、低气压试验、振动噪声、振动疲劳、温度循环试验、稳定性烘焙试验、绝缘电阻测试、静电放电、模拟寿命、盐雾(盐汽)、老炼、随机振动、X射线检查、剪切强度、粘接强度、扫描电子显微镜(SEM)检查、键合强度、X射线照相、外形尺寸、外观检查、扫描声学显微镜检查、扫描电子显微技术和电子束显微分析、探针测试、横截面、粗检漏、细检漏、附加电气试验、低气压、湿热、颗粒碰撞噪声检测、冲击、寿命、浸液、浸渍
检测标准:1、JESD22-A114E-2007 静电放电试验人体模式
2、IEC 60068-2-17-1994 基础环境试验程序 第2部分:试验-试验Q:密封 第2部分:试验-试验Q:密封
3、GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017 微电子器件试验方法和程序 1001
4、GJB 548B-2005、MIL-STD-883H-2010 微电子器件试验方法和程序 2005;2006;2007;2026
5、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法1014.2
6、GJB 548B-2005方法2005、2006、2007、MIL-STD-883L-1-2019 方法2005.2、2006.1、2007.3 微电子器件试验方法和程序
7、GJB548B-2005 方法2005、2006、2007、2026.1 微电子器件试验方法和程序
8、MIL-STD-883H-2010 微电子器件试验方法和程序 2005;2006;2007;2026
9、GJB 548B-2005 方法1002、MIL-STD-883L-1-2019 方法1002 电子及电气元件试验方法
10、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序
11、MIL-STD-883K 2017 微电子器件试验方法标准 Method 2012.10
12、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法1014.2条件A1和C1
13、GB/T 2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封 第2部分:试验方法 试验Q:密封
14、GJB 548B-2005、MIL-STD-883J-2015 微电子器件试验方法和程序 方法 1010.1
15、GJB548B-2005 方法1004.1 微电子器件试验方法和程序
16、MIL-STD-883K-2018 微电路试验方法标准 方法3015.9
17、MIL-STD-883K-2016 微电子器件试验方法和程序 方法 2002.5
18、 JESD22-B101C-2015 外观检查 External Visual
19、GJB 548B-2005方法1005.1、1006、1007、MIL-STD-883L-1-2019 方法1005.11、1006 微电子器件试验方法和程序
20、GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1103第2.4条
检测报告用途商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。
检测费用价格因测试项目及实验复杂程度不同,具体请联系客服确定后进行报价。
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