![百检网](/_nuxt/img/logo.a544c5e.png)
半导体集成电路CMOS电路检测标准是什么?检测报告如何办理?检验哪些指标?检测周期多久呢?报告有效期多久呢?测试哪些项目呢?我们只做真实检测。
检测报告示例
输入低电平电流IIL、输入高电平电流IIH、输出低电平电压VOL、输出高电平电压VOH、输出高阻态电流IOZ、静态条件下的电源电流、电源电流IDD、输入低电平电压VIL、输入高电平电压VIH、输出低电平电流IOL、输出低阻态时低电平电流IOZL、输出由低电平到高电平传输延迟时间tPLH、输出由高电平到低电平传输延迟时间tPHL、输出高电平电流IOH、输出高阻态时高电平电流IOZH、输出高阻态时低电平电流IOZL、输入出低电平电压VIL、输入钳位电压VIK、输出短路电流IOS、密封、恒定加速度、温度循环、电源电流、稳定性烘焙、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、输入低电平电压、输入低电平电流、输入高电平电压、输入高电平电流、输出低电平电压、输出低电平电流、输出高电平电压、输出高电平电流、输出高阻态时低电平电流、输出高阻态时高电平电流、输出漏电流、电源电流 IDD、输入低电平电压 VIL、输入低电平电流 IIL、输入钳位电压 VIK、输入高电平电压 VIH、输入高电平电流 IIH、输出低电平电压 VOL、输出低电平电流 IOL、输出短路电流 IOS、输出高电平电压 VOH、输出高电平电流 IOH、输出高阻态时低电平电流 IOZL、输出高阻态时高电平电流 IOZH、传输时间、建立时间、滞后电压、输入正向阈值电压、输入负向阈值电压、输出高阻态时电流、电源电流 IDD、输入钳位电压 VIK、输入高电平电压 VIH、输出低电平电压 VOL、输出低电平电流 IOL、输出高阻态电流、输入钳位电压V、输出低电平电流I、输出高电平电流I、输入低电平电流I、输入高电平电压V、输入出低电平电压V、输出短路电流I、输入高电平电流I、输出高电平电压 VOH、输出低电平电压 VOL、输入高电平电流 IIH、输入低电平电流 IIL、输出高电平电流 IOH、输出低电平电流 IOL、输出高阻态时高电平电流 IOZH、输出高阻态时低电平电流 IOZL、电源电流 IDD
检测标准:1、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
2、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
3、GB/T 17574-1998方 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第IV篇 方法38
4、GB /T 17574-1998 《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》 第IV篇第3节第4.1条
5、IV 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第篇 GB/T 17574-1998方
6、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法1010.1
7、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 1014.2
8、GB/T 17574-1998 《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》 第Ⅳ篇 第2节 4
9、SJ/T10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 5.15
10、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第IV篇 GB/T 17574-1998
11、GB /T 17574-1998 《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》 GB /T 17574-1998
12、SJ/T10741-2000/ 半导体器件集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 5.15
13、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第IV篇 方法37
14、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 5.3
15、GB/T17574-1998 半导体集成电路第2部分:数字集成电路 IV.2.4
检测报告用途商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。
检测报告有效期一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。如果是用于过电商平台,一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。
检测时间周期一般3-10个工作日(特殊样品除外),具体请咨询客服。
检测费用因测试项目及实验复杂程度不同,具体请联系客服确定后进行报价。
检测流程