半导体分立器件发光二*管检测测试哪些指标?检测报告如何办理?检测费用多少?检测周期多久呢?百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。
检测报告示例
检测项目:不工作器件、反向电流、发光强度、可焊性、外部目检、尺寸、峰值发射波长、引出端强度、机械冲击或振动、正向电压、温度变化、温度快速变化继之以湿热循环、电耐久性、稳态湿热、耐焊接热、辐射图、半强度角
检测标准:1、GB/T 4937-1995 半导体器件 机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995
2、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二*管 GB/T 6571-1995
3、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法 3.1
4、GB/T 4589.1-2006IEC 60747-10:1991 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 4.3.1.1
5、GB/T 4589.1-2006IEC 60747-10:1991 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006IEC 60747-10:1991
6、GB/T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 8
7、GB/T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 GB/T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009
8、GB/T 4937-1995 半导体器件 机械和气候试验方法 第Ⅱ篇 2.1
9、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二*管 第Ⅳ章 第1节 2
10、GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 GB/T 12565-1990
11、GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 3.4.1
12、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003
检测报告用途商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。
检测报告有效期一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新,测试不变检测报告一直有效。如果是用于过电商平台,一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。
检测费用价格因测试项目及实验复杂程度不同,具体请联系客服确定后进行报价。
检测流程