调整二极管检测检验费用

2023-09-01  |  来源:互联网 125浏览
摘要:调整二极管检测测试哪些指标?检测报告如何办理?检测费用多少?检测周期多久呢?百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

调整二*管检测标准是什么?检测报告如何办理?检验哪些指标?检测周期多久呢?报告有效期多久呢?测试哪些项目呢?我们只做真实检测。

检测报告

检测报告

检测项目:

反向电流、工作电压、正向电压、反向电流IR、工作电压VZ、微分电阻Rz、总电容Ctot、正向电压VF、反向电流IR、工作电压VZ、正向电压VF、微分电阻、工作电压的温度系数、交变湿热、反向击穿电压、可焊性、外部目检、密封性、尺寸、工作电压温度系数、引出端强度、快速温度变化、振动、*大反向电流、*大正向电压、*大电容、机械冲击、稳态湿热、耐焊接热、高温*大反向电流、高温贮存、箝位电压VC、调整电流IS、*限电压VL、功率检波效率(ηp)、噪声电压(vn)、工作电压的温度系数(αVz)、恢复电荷(Qr)、时间参数、电压参数、电压检波效率(ηv)、电容参数、电导参数、电流参数、电阻参数、调整电流的温度系数(αIs)、击穿电压V(BR)、反向漏电流 IR、工作电压 VZ、微分电阻 RZ、正向电压 VF、反向电流IR、正向电压VF、击穿电压、反向漏电流IR、正向直流电压VF、反向电流IR、正向电压VF、反向漏电流IR、正向电压 VF、击穿电压V(BR)、反向漏电流 IR、工作电压 VZ、微分电阻 RZ、反向电流(IR)、工作电压(VZ)、微分电阻(rZ)、正向电压(VF)

检测标准:

1、GB/T 6571-1995 《半导体 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二*管》 GB/T 6571-1995

2、GB/T 4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二*管 7.1.3.1

3、GB/T 6571-1995(IEC 60747-3:1985) 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二*管 第Ⅲ章1节3.5

4、GB/T 4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二*管 GB/T 4023-2015

5、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法4011

6、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

7、GB/T 6571-1995 《半导体 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二*管》 /第IV章、第2节、4

8、GB/T6571-1995(IEC60747-3:1985) 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二*管

9、GB/T 6589-2002 半导体器件 分立器件 第3-2部分:信号(包括开关)和调整二*管(不包括温度补偿精密基准二*管) 空白详细规范

10、GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二*管 第Ⅳ章 第2节 4

11、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法4011

12、GB/T 4937.14-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)

13、GB/T4023-2015 《半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二*管》 7.1.4.1

14、GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法 Ⅲ 4

15、GBT 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二*管 GBT6571-1995

检测报告用途

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

检测报告有效期

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。如果是用于过电商平台,一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

检测时间周期

一般3-10个工作日(特殊样品除外),具体请咨询客服。

检测费用

因测试项目及实验复杂程度不同,具体请联系客服确定后进行报价。

检测流程

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