晶体管检测第三方公司

晶体管检测测试哪些项目？检测周期多久呢？检测费用是多少？检测报告如何办理？报告有效期多久呢？百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

报告范例

发射*-基*击穿电压V_(BR)EBO、发射*-基*截止电流I_EBO、基*-发射*饱和电压V_BEsat、正向电流传输比h_FE、集电*-发射*击穿电压V_(BR)CEO、集电*-发射*截止电流I_CEO、集电*-发射*截止电流I_CER、集电*-发射*截止电流I_CES、集电*-发射*截止电流I_CEX、集电*-发射*饱和电压V_CEsat、集电*-基*击穿电压V_(BR)CBO、集电*-基*截止电流I_CBO、漏源击穿电压、集电*-发射*击穿电压、发射*-基*截至电流IEBO、发射*电流为零时的集电*-基*击穿电压V(BR)CBO、基*-发射*饱和电压VBEsat、常温功率老炼、集电*-发射*截至电流ICEO、集电*-发射*饱和电压VCEsat、集电*-基*截至电流ICBO、高温反偏老炼、基射*电压、射基*关态电流、射基*反向击穿电压、直流增益、稳态热阻、集基*反向击穿电压、集基电*关态电流、集射*反向击穿电压、集射*饱和压降、集射电*关态电流、放大倍数、集电*-发射*饱和电压、放大倍数h_FE、集电*-发射*击穿电压V_{(BR) CEO}、密封性检查、恒定加速度、正向电流传输比HFE、温度循环、稳态功率、粒子碰撞噪声检测试验（PIND）、高温反偏、高温寿命（非工作）、发射*-基*击穿电压V_(BR)EBO、发射*-基*截止电流I_EBO、基*-发射*饱和电压V_BEsat、集电*-发射*击穿电压V_(BR)CEO、集电*-发射*饱和电压V_CEsat、集电*-基*击穿电压V_(BR)CBO、集电*-基*截止电流I_CBO、共发射*电流放大倍数、发射*—基*击穿电压、发射*—基*间漏电流、基*—发射*间非饱和压降、基*—发射*饱和压降、集电*—发射*击穿电压、集电*—发射*漏电流、集电*—发射*间饱和压降、集电*—基*击穿电压、集电*—基*反向电流、共发射*正向电流传输比的静态值、发射*-基*击穿电压、发射*-基*截止电流、栅-源截止电压、栅-源阈值电压、漏*电流、集电*-发射*截止电流、集电*-基*击穿电压、集电*-基*截止电流、高温寿命、击穿电压、截止电流、直流放大倍数、饱和压降、基*-发射*饱和电压、共射*正向电流传输比、共发射*正向电流传输比、共射*正向电流传输比（H_FE)、发射*-基*截止电流（_IEBO)、基*-发射*饱和电压（V_BEsat)、晶体管集电*-发射*击穿电压V_(BR)CEX、集电*-发射*截止电流（I_CEO)、集电*-发射*饱和电压（V_CEsat)、集电*-基*截止电流（I_CBO)、反向击穿电压、正向电流传输比、集电*-发射*击穿电压V(BR)CEO、集电*-发射*截止电流ICEO、发射*-基*击穿电压V(BR)EBO、集电*-基*击穿电压V(BR)CBO、集电*-基*截止电流ICBO、发射*-基*截止电流IEBO

1、GB/T 4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双*型晶体管》 GB/T 4587-1994

2、GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章 第5节

3、GB/T 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3011

4、GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

5、GJB128A-97 半导体分立器件试验方法 3011

6、MIL-STD-750F:2012 半导体测试方法测试标准 3066.1

7、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3407

8、MIL-STD- 750F:2012 半导体分立器件试验方法 MIL-STD-750F:2012

9、 GJB128A-1997 GB4587-94 半导体分立器件试验方法半导体分立器件和集成电路.第7部分：双*型晶体管 GJB128A-1997 GB4587-94 4

10、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3011

11、GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分 双*型晶体管 第Ⅳ章 第1节10

12、 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双*型晶体管 Ⅳ 2.7

13、GB/T 4587-1994 IV2.2 《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双*型晶管》GB/T 4587-1994 IV2.2

14、GJB128A-1997 GB4587-94 半导体分立器件试验方法半导体分立器件和集成电路.第7部分：双*型晶体管 GJB128A-1997 GB4587-94 9.6

15、GJB128A-1997 GB4587-95 半导体分立器件试验方法半导体分立器件和集成电路.第7部分：双*型晶体管 GJB128A-1997 GB4587-95 5

16、GB/T 4587-94 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双*型晶体管 第IV通用测试方法和基准测试方法

17、GJB128A—1997 半导体分立器件试验方法 方法1039

18、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双*型晶体管 Ⅳ1/10

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

一般3-10个工作日（特殊样品除外），具体请咨询客服。

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新，测试不变检测报告一直有效。如果是用于过电商平台，一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

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