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共模仰制比、开环电压增益、电源电压仰制比、输入偏置电流、输入失调电压、输入失调电流、静态功耗、共模抑制比CMRR、开环电压增益AV0、电源电压抑制比PSRR、输入偏置电流IIB、输入失调电压VOS、输入失调电流IOS、输出峰-峰电压VOPP、静态电源电流IDD、差分输入线性放大器的输入失调电压、开环电压放大倍数、共模抑制比、电源电压抑制比、短路输出电流、输出短路电流、开环电压增益AVO、电源电流、输出电压、共模抑制比k_CMR、开环电压放大倍数A_vo、电压转换速率（压摆率）SR、电源电压抑制比k_SVR、电源电流Is、输入偏置电流I_IB、输入失调电压V_IO、输入失调电流I_IO、共模抑制比 K_CMR、增益带宽乘积G.BW、开环电压增益A_VD、输入偏置电流 I_IB、输入失调电压 V_IO、输出电压转换速率SR、共模抑制比（K_CMR）、开环增益、输入偏置电流I(_IB)、输入失调电压和/或电流幅值(V_IO、I_IO)、输出阻抗或导纳、单位增益频率f₁、开环电压放大倍数A_VD、电源电流I_S、输出电压*大变化率S_VOM、输出电压范围V_OPP、大信号电压增益、输出电压幅度、静态电源电流、共模抑制比K_CMR、开环电压增益A_VD、电源电压抑制比K_SVR、电源电流I_CC、开环电压放大倍数AVD、共模抑制比kCMR、电源电压抑制比kSVR、电源电流IS、单位增益频率f1、输入失调电压VIO、输出电压范围VOPP、输入失调电流IIO、输出电压*大变化率SVOM、输入失调电压和/或电流幅值、开环增益放大倍数、输入失调电压（VIO）、输入失调电流（IIO）、输入偏置电流 IIB、共模抑制比（KCMR）、开环电压放大倍数A_V、差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入线性放大器的偏置电压V_IO、差分放大器的输出电压范围V_OPP、输出电压*大变化率(转换速率)S_VOM、电源电流I_I、部分参数、开环电压放大倍数A、电源电流I、输入失调电流I、差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入线性放大器的偏置电压V、输入偏置电流I、电源电压抑制比k、共模抑制比k

1、GB/T 17940-2000第IV篇 第2节/13 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第IV篇 第2节 第13条

2、GJB9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法 5.9

3、QJ 2491-1993 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

4、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

5、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第IV篇 第2节 第12条

6、QJ 2491/1993 半导体集成电路运算放大器测试方法 QJ2491/1993

7、SJ/T 10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

8、GB/T17940-2000 半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 第Ⅳ篇 第2节 5

9、GB/T 17940－2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940－2000

10、GB/T 17940－2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第Ⅳ篇第2节12

11、GJB 9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB9147-2017

12、QJ2491/1993 半导体集成电路运算放大器测试方法 第5.11条

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一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。如果是用于过电商平台，一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

一般3-10个工作日（特殊样品除外），具体请咨询客服。

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

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