硅单晶检测认证费用

硅单晶检测哪些项目？检测周期多久呢？测试方法有哪些？我们严格按照国家和行业相关标准进行检测和评估，确保检测结果的准确性和可靠性。同时，我们还根据客户的需求，提供个性化的检测方案和报告，帮助厂家更好地了解产品质量和性能。百检第三方检测机构支持寄样、上门检测，主要为公司、企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务，报告CMA/CNAS/CAL资质，真实有效。做检测，找百检！

检测报告

部分参数、少数载流子寿命、氧含量、表面金属、全部参数、碳含量、晶体完整性、直径、晶向及晶向偏离度、径向电阻率变化、电阻率、导电类型、部分项目、晶向、直径及允许误差、弯曲度、翘曲度、氧化诱生缺陷、表面质量、厚度和总厚度变化、厚度与总厚度变化、微管密度、晶型、表面粗糙度、晶向及晶向离度、全部项目、硅单晶电阻率标准样片检定校准、主参考面晶向

1、GB/T 12965-2005 《硅单晶切割片和研磨片》

2、GB/T 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法

3、SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度测试方法 5. 原子力显微镜法

4、GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法

5、GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法

6、GB/T 25076-2018 太阳电池用硅单晶 6.2

7、GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法 GB/T 30867-2014

8、SEMI PV43-0113 太阳能电池用硅材料中氧含量的测试 惰性气体熔融红外法

9、JJF 1760 硅单晶电阻率标准样片校准规范

10、GB/T12962-2015 硅单晶

11、GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法

12、GB/T12965-2018 硅单晶切割片和研磨片

13、GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法

14、SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法 SJ/T 11503-2015

15、GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法

16、GB/T 12964-2003 直径

17、GB/T12964-2018 硅单晶抛光片

18、SJ/T11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法

19、GB/T 12962-2015 硅单晶

20、GB/T 12965-2018 硅单晶切割片和研磨片

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新，测试不变检测报告一直有效。如果是用于过电商平台，一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

如果您对产品品质和安全性能有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。让我们助您一臂之力，共创美好未来。

一般3-10个工作日（特殊样品除外），具体请咨询客服。

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

严格标准：严格按照国家和行业相关标准进行检测和评估，确保检测结果的准确性和可靠性。

个性化建议：根据客户需求提供个性化的检测方案和报告，帮助厂家更好地了解产品质量和性能。

快速反馈：及时为客户提供检测结果和反馈，以便厂家能够采取相应的措施进行改进和完善。

便捷高效：提供灵活的服务方式和时间安排，以便客户能够便捷地获得所需的检测服务和支持。

经验丰富：我们拥有丰富的行业经验和知识储备能够为客户提供相关的检测服务支持。

检测流程