集成电路检测点

集成电路检测测试哪些项目？检测周期多久呢？检测费用是多少？我们严格按照国家和行业相关标准进行检测和评估，确保检测结果的准确性和可靠性。同时，我们还根据客户的需求，提供个性化的检测方案和报告，帮助厂家更好地了解产品质量和性能。百检第三方检测机构支持寄样、上门检测，主要为公司、企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务，报告CMA/CNAS/CAL资质，真实有效。百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

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1、EN 61967-2:2005 集成电路-电磁发射测量、150kHz - 1GHz-第2部分:辐射发射测量- TEM小室和宽带TEM小室法 8

2、GJB4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 项目1101、项目1102 2.3

3、GB/T12750-2006 半导体器件 集成电路第11部分:半导体集成电路分规范（不包括混合电路） 12.1

4、Q/GDW 11179.14-2015 电能表用元器件技术规范 第11部分：计量芯片 7.4.1

5、IEC 62132-4:2006 集成电路-电磁抗扰度测量、150 kHz -1 GHz - 第四部分：直接射频功率输入法 8

6、SJ 21473.3-2018 **集成电路电磁抗扰度测量方法 第3部分：传导抗扰度测量大电流注入（BCI）法 6

7、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 2016

8、ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018 静电放电敏感度测试、带电器件模型（CDM）-器件级

9、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇 第3节 4.1.2

10、JESD22-A108F:2017 温度偏置寿命实验 4.2.3.2

11、IEC 62215-3:2013 集成电路-脉冲抗扰度测量-第三部分：异步瞬态注入法 10 & Annex D

12、GB/T 17940-2000、IEC 60748-3:1986 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第IV篇 第2节 17

13、JESD22-A117E:2018 电子可清除可编程ROM编程/清除耐久力和数据保持能力测试 4.2

14、AEC-Q100-005-REV-D1:2012 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 3.3

15、JESD47K :2018 IC集成电路压力测试考核 5.5 表 5-1

16、IEC 62132-2:2010 集成电路-电磁抗扰度测量、150kHz - 1GHz-第2部分:辐射抗扰度测量- TEM小室和宽带TEM小室法 8

17、Q/GDW 11179.11-2015 电能表用元器件技术规范 第11部分：串口通信协议RS-485芯片 7.5.1

18、JEDEC JESD78E-2016 集成电路闩锁测试

19、IEC 62132-3:2007 集成电路-电磁抗扰度测量、150 kHz -1 GHz - 第三部分：大电流注入（BCI）法 6

20、AEC-Q100-008-REV-A:2003 早期寿命失效率 3.2

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一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新，测试不变检测报告一直有效。

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

一般3-10个工作日（特殊样品除外），具体请咨询客服。

严格标准：严格按照国家和行业相关标准进行检测和评估，确保检测结果的准确性和可靠性。

个性化建议：根据客户需求提供个性化的检测方案和报告，帮助厂家更好地了解产品质量和性能。

快速反馈：及时为客户提供检测结果和反馈，以便厂家能够采取相应的措施进行改进和完善。

便捷高效：提供灵活的服务方式和时间安排，以便客户能够便捷地获得所需的检测服务和支持。

经验丰富：我们拥有丰富的行业经验和知识储备能够为客户提供相关的检测服务支持。

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如果您对产品品质和安全性能有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。让我们助您一臂之力，共创美好未来。