半导体集成电路霍尔效应数字开关电路检测哪些指标

半导体集成电路霍尔效应数字开关电路检测项目有哪些?半导体集成电路霍尔效应数字开关电路检测报告如何办理?检测标准方法是什么？百检第三方检测机构主要为公司企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务，报告CMA/CNAS/CAL资质，真实有效。

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动作点磁感应强度B_{op、磁感应强度Bop、输出低电平电压VOL、输出漏电流IOH、输出高阻态电流IOZ、静态条件下的电源电流、静态电源电流IS、动作点磁感应强度、复位点磁感应强度}

1、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 1

2、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字电路 第Ⅳ篇 测试方法 第2节 7

3、GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 测试方法 第2节1 半导体器件 集成电路 第2部分：数字电路

4、JB∕T  12785-2016  霍尔接近开关传感器 JB∕T 12785-2016

5、JB∕T 12785-2016 6.4  霍尔接近开关传感器

6、JB∕T 12785-2016  霍尔接近开关传感器

7、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序

8、GB/T17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字电路

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