半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)检测项目有哪些?半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)检测报告如何办理?检测标准方法是什么?百检第三方检测机构主要为公司企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务,报告CMA/CNAS/CAL资质,真实有效。
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检测项目参考如下:二*管正向压降VSD、低温测试、反向恢复时间trr、开关时间(td(on)、tt、tf、td(off))、栅*截止电流IGSS、栅电荷(Qg、Qgs、Qgd)、正向跨导gfs、漏-源击穿电压V(BR)DSS、漏-源通态电阻RDS(on)、漏*截止电流IDSS、瞬态热阻Rth、稳态热阻Rja、Rjc、结电容(Ciss、Coss、Crss)、耐溶性、阈值电压VGS(th)VGS(off)、高温测试
检测标准方法汇总:1、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二*管 GB/T 6571-1995
2、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
4、GB/T4586-1994 半导体分立器件和集成电路 第8部分:场效应功率晶体管 第Ⅳ章 第2条、第4条、第5条、第6条、第7条、第9条、第10条、第11条、第15条
5、GB/T 4586-1994 半导体分立器件和集成电路 第8部分:场效应功率晶体管 GB/T4586-1994
6、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 4011
7、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
8、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二*管 第Ⅳ章4.2.3、4.2.4
9、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 215
10、MIL-STD- 750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F
11、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 2015.1
12、MIL-STD-750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 3472.2
以上内容为部分列举,仅供参考。如果您对半导体晶体场效应管(MOSFET,碳化硅MOSFET)检测有严格要求,不妨考虑选择我们的检测服务。百检也可根据您的需求设计检测方案。具体请咨询客服。
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