TTL电路检测哪些指标

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输入低电平电流、输入电流、输入钳位电压、输入高电平电流、输出低电平电压、输出低电平电源电流、输出短路电流、输出高电平电压、输出高电平电源电流、输出高阻态时低电平电流、输出高阻态时高电平电流、输出低电平电压VOL、输出短路电流IOS、输出高电平电压VOH、功能测试、正向阈值电压下的输入电流、负向阈值电压下的输入电流、输出低电平时电源电流、输出高电平时电源电流、传输时间、功能、动态条件下的总电源电流、延迟时间和转换时间、输入阈值电压和滞后电压、输出高阻态电流、电源电流I_CC、输入低电平电流I_IL、输入钳位电压 V_IK、输入高电平电流I_IH、输出低电平时电源电流 I_CCL、输出低电平电压V_OL、输出由低电平到高电平传输延迟时间t_PLH、输出由低电平到高阻态传输延迟时间t_PLZ、输出由高电平到低电平传输延迟时间t_PHL、输出由高电平到高阻态传输延迟时间t_PHZ、输出由高阻态到低电平传输延迟时间t_PZL、输出由高阻态到高电平传输延迟时间t_PZH、输出高电平时电源电流I_CCH、输出高电平电压V_OH、电源电流、输出低电平、输出高电平、输入钳位电压 VIK、输入高电平电流IIH、输入低电平电流IIL、电源电流ICC、输出高电平时电源电流ICCH、输出低电平时电源电流 ICCL、静态条件下的电源电流IDD、输入钳位电压V_IK、输出短路电流I_OS、输出高阻态电流I_OZ、静态条件下的电源电流I_CC、输出高电平电压和输出低电平电压、输入高电平电流和输入低电平电流、静态条件下的电源电流、输入电流I_I、输出低电平电源电流I_CCL、输出高电平电源电流I_CCH、功能测试（静态测试、动态测试）、延迟时间、输出高阻态时低电平电流I_OZL、输出高阻态时高电平电流I_OZH、正向阈值电压下的输入电流I_T+、负向阈值电压下的输入电流I_T-、输出低电平时电源电流I_CCL、输入低电平电压、输入高电平电压

1、SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 第2.25条

2、GJB548B--2005 微电子器件试验方法和程序

3、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

4、GB/T 17574-1998 半导体集成电路 第2部分 数字集成电路 第IV篇第3节第4.1.1条

5、SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996

6、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第IV篇 方法38

7、SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法

8、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇第2节1

以上内容为部分列举，仅供参考。如果您对TTL电路检测有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。百检也可根据您的需求设计检测方案。具体请咨询客服。

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