半导体分立器件筛选检测标准明细

半导体分立器件筛选检测项目有哪些?半导体分立器件筛选检测报告如何办理?检测标准方法是什么？百检第三方检测机构主要为公司企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务，报告CMA/CNAS/CAL资质，真实有效。

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低温测试、密封-粗检漏、密封-细检漏、温度循环、老炼、高温反偏、高温测试、密封性检测、老炼试验、高温寿命（非工作）、外观及机械检验、稳态工作寿命、老炼和寿命试验（IGBT)、老炼（二*管、整流管、稳压管）、老炼（晶体管）、老炼（闸流晶体管）、芯片目检（半导体二*管）、高温寿命、外观及机械检查、密封

1、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1071

2、GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

3、GJB128A-97 半导体分立器件试验方法

4、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

5、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法5004.2

以上内容为部分列举，仅供参考。如果您对半导体分立器件筛选检测有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。百检也可根据您的需求设计检测方案。具体请咨询客服。

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