芯片剪切强度检测流程解析

2023-11-29  |  来源:互联网 168浏览
摘要:芯片剪切强度检测项目有哪些?芯片剪切强度检测报告如何办理?检测标准方法是什么?百检第三方检测机构主要为公司企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务,报告CMA/CNAS/CAL资质,真实有效。

芯片剪切强度检测项目有哪些?芯片剪切强度检测报告如何办理?检测标准方法是什么?百检第三方检测机构主要为公司企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务,报告CMA/CNAS/CAL资质,真实有效。

检测报告图片

检测报告

检测项目参考如下:

芯片剪切强度

检测标准方法汇总:

1、MIL-STD-1580B 电气、电子和机电元器件破坏性物理分析方法

2、GJB4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法

3、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法2017

4、MIL-STD-883K 微电子器件试验方法和程序 方法2019

5、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2019.2

6、MIL-STD-750F 半导体分立器件试验方法和程序 方法2017

以上内容为部分列举,仅供参考。如果您对芯片剪切强度检测有严格要求,不妨考虑选择我们的检测服务。百检也可根据您的需求设计检测方案。具体请咨询客服。

检测流程

检测流程