光耦合器检测标准明细

光耦合器检测标准有哪些?光耦合器检测测试哪里可以做？测试方法流程是什么？百检第三方机构检测服务包括食品、环境、建材、电子、化工、家居、母婴、玩具、纺织品、日化、农产品等多项领域。报告CMA/CNAS/CAL资质，真实有效。

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1、SJ2215.2-1982 半导体光耦合器（二*管）正向压降的测试方法SJ 2215.2-1982

2、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 5.1

3、GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 1201

4、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双*型晶体管 GB/T 4587-1994

5、GB 12565－1990 半导体器件光电子器件分规范 表D1

6、SJ2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法SJ 2215.8-1982

7、GJB4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析 工作项目1201第2.7条

8、GB 12565-1990 半导体器件光电子器件分规范 GB 12565-1990

9、YD/T 1117-2001 全光纤型分支器件技术条件 YD/T 1117-2001

10、GB 12565-1990 半导体器件光电子器件分规范 附录D表D1

11、GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 方法 2076

12、SJ2215.9-1982 半导体光耦合器（三*管）反向截止电流的测试方法 SJ 2215.9-1982

13、GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二*管 第IV第1节1

14、SJ/T 2215-2015 半导体光耦合器测试方法 SJ/T2215-2015

15、GB 12565－1990 半导体器件光电子器件分规范 GB 12565－1990

16、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 2018.1

17、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

18、SJ2215.7-1982 半导体光耦合器集电*－发射*反向击穿电压的测试方法SJ 2215.7-1982

19、SJ2215.4-1982 半导体光耦合器（二*管）反向电流的测试方法 SJ 2215.4-1982

20、YD/T1117-2001 全光纤型分支器件技术条件

周期：常规3-15个工作日，特殊样品检测项目除外。

费用：根据检测项目收费报价，具体请咨询客服。

1、项目招投标：要求出具的第三方CMA/CNAS资质报告；

2、上线电商平台入驻：质检报告各大电商平台认可；

3、用作销售报告：出具合格的检测报告，让消费者更放心；

4、论文及科研使用：提供个性化、准确的数据参考；

5、工业问题诊断：验证工业生产环节问题排查和修正等。

以上内容为部分列举，仅供参考。如果您对光耦合器检测有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。百检工程师一对一服务，也可根据您的检测需求制定方案，就近安排实验室检测。具体请咨询客服。

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