集成电路-MCU 芯片检测检验公司

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检测报告图片

低温工作寿命检测、低温读写、功能检测、常温读写＋保存数据退化及只读检测、无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)、早夭期寿命检测、温度循环检测（TC）、湿敏等级检测、电气性能检测、芯片的 DPI 传导抗扰度、芯片的 EFT 传导抗扰度、芯片的 PESD 传导抗扰度、芯片辐射电场抗扰度、闩锁检测（Latch-up）、静态高温长时间保存下数据退化检测、静电放电-人体模型检测（ESD-HBM）、静电放电-带电器件模型检测（ESD-CDM）、预处理检测、高加速温湿度寿命检测（HAST）、高温存储检测（HTSL）、高温工作寿命检测、高温读写＋保存数据退化检测、机械性能检测

1、T/CIE073-2031 预处理检测

2、T/CIE073-2030 湿敏等级检测

3、T/CIE073-2033 高加速温湿度寿命检测（HAST）

4、T/CIE073-2032 无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)

5、T/CIE073-2035 温度循环检测（TC）

6、T/CIE073-2034 高温存储检测（HTSL）

7、T/CIE073-2037 静电放电-带电器件模型检测（ESD-CDM）

8、T/CIE073-2036 静电放电-人体模型检测（ESD-HBM）

9、T/CIE073-2039 芯片辐射电场抗扰度

10、T/CIE073-2038 闩锁检测（Latch-up）

11、T/CIE 073—2020 工业级高可靠集成电路评价 第 8 部分： MCU 芯片 T/CIE 073—2020

12、T/CIE073—2020 湿敏等级检测

13、T/CIE073-2040 芯片的 DPI 传导抗扰度

14、T/CIE073-2042 芯片的 PESD 传导抗扰度

15、T/CIE073-2020 电气性能检测

16、T/CIE073-2041 芯片的 EFT 传导抗扰度

17、T/CIE073-2021 功能检测

18、T/CIE073-2024 高温工作寿命检测

19、T/CIE073-2023 早夭期寿命检测

20、T/CIE073-2026 静态高温长时间保存下数据退化检测

第三方检测机构平台

汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构和实验室，检测服务包括：认证、计量、食品、环境、建材、电子、化工、汽车、家居、玩具、箱包、水质、纺织品、日化品、农产品等多项领域。百检网让检测变得简单！

检测报告作用：

1、项目招投标：出具第三方CMA/CNAS资质报告；

2、电商平台入驻：质检报告各大电商平台认可；

3、销售报告：出具真实的检测报告，让消费者更放心；

4、论文及科研：提供科学、准确的检测数据；

5、工业问题诊断：验证工业生产环节问题排查和修正；

检测流程

以上内容为部分列举，仅供参考。百检也可根据您的需求设计检测方案。如果您对集成电路-MCU 芯片检测有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。更多信息请咨询客服。