CMOS电路检测第三方报告

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电源电流、输入低电平电压、输入低电平电流、输入钳位电压、输入高电平电压、输入高电平电流、输出低电平电压、输出低电平电流、输出高电平电压、输出高电平电流、输出高阻态时低电平电流、输出高阻态时高电平电流、输入低电平电流IIL、输入高电平电流IIH、输出低电平电压VOL、输出高电平电压VOH、输出高阻态电流IOZ、静态条件下的电源电流IDD、功能测试、输出短路电流、传输时间、功能、动态条件下的总电源电流、延迟时间和转换时间、输入阈值电压和滞后电压、输入高电平电流和输入低电平电流、输出高电平电压和输出低电平电压、输出高阻态电流、静态条件下的电源电流、输入钳位电压V_IK、输出低电平电压V_OL、输出低电平电流I_OL、输出短路电流I_OS、输出高电平电压V_{OH、输出高电平电流IOH、输出高阻态电流IOZ、静态条件下的电源电流ICC、输入钳位电压 VIK、输入高电平电压VIH、输入低电平电压VIL、电源电流IDD、电源电流IDD、输入低电平电压VIL、输入低电平电流IIL、输入钳位电压 VIK、输入高电平电压VIH、输入高电平电流IIH、输出由低电平到高电平传输延迟时间tPLH、输出由高电平到低电平传输延迟时间tPHL、输出高电平电压VOH、输出低阻态时低电平电流IOZL、输出高阻态时高电平电流IOZH、输出高阻态时低电平电流IOZL、输入出低电平电压VIL、密封、恒定加速度、温度循环、稳定性烘焙、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验}

1、GJB548B--2005 微电子器件试验方法和程序 第4.5节 方法5005.2

2、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

3、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

4、GB/T 17574-1998 半导体集成电路 第2部分 数字集成电路 第IV篇第3节第4.1.2条

5、SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 第5.15条

6、GB/T 17574-1998方 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第IV篇 方法38

7、SJ/T10741-2000/ 半导体器件集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 5.15

8、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第IV篇 方法37

9、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 1014.2

10、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇第2节2

11、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

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检测流程

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