单片集成电路检测CMA实验室

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工作状态电源电流、输入低电平电压、输入高电平电压、输出电压、静态电流、静态条件下的电源电流、动态条件下的总电源电流、传输时间（双*电路）、传输时间（MOS电路）、延迟和转换时间（双*电路）、延迟和转换时间（MOS电路）、建立时间、保持时间、分辨时间、输出允许或禁止时间（三态输出）、存储器的特定时间、时序电路的转换频率

1、GB/T 17574-1998 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998

2、GB/T 17574-1998 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 第Ⅳ篇第3节1

3、GB/T 17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000

4、GB/T 17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 第IV篇、第3节、12

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检测流程

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