固体继电器检测CNAS实验室

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1、GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目 0702

2、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

3、GJB151**-2001 《固体继电器总规范》 4.7.6

4、GB/T 14048.5-2017 低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 8.4.2.6

5、GJB1515B-2017 固体继电器总规范 方法 4.7.7.2.4

6、GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006

7、QJ 2289-92 固体继电器测试方法 5.12

8、GJB 151**-2001 《固体继电器总规范》 4.7.7.6

9、QJ 2289-1992 固体继电器测试方法 5.9

10、GJB 1515B-2017 固体继电器通用规范 4.7.7.14

11、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 2013、2017

12、GJB 1515B-2017 固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017

13、GB/T 14048.1-2012 低压开关设备和控制设备 第1部分：总则 8.2.4

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检测流程

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