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SEM检查、X射线检查、内部目检、剪切强度、声学扫描显微镜、外部目检、密封、玻璃钝化层的完整性、粒子碰撞噪声检测(PIND)、键合强度、声学扫描显微镜检查、玻璃钝化层完整性
检测标准方法一览:1、2009 粒子碰撞噪声检测(PIND)
2、1997 外部目检
3、GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006
4、2006 X射线检查
5、2005 外部目检
6、GJB4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1101 2.9、1102 2.9、1103 2.7、1002 2.10、1003 2.9
7、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法2069、方法2070、方法2072、方法2074
8、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
9、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
10、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
11、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2018.1
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检测报告作用:
1、项目招投标:出具第三方CMA/CNAS资质报告;
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4、论文及科研:提供科学、准确的检测数据;
5、工业问题诊断:验证工业生产环节问题排查和修正;
检测流程
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