绝缘栅双极型晶体管检测哪里可以做？

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1、MIL-STD- 750-4w/CHANGE 3-2019 半导体设备二*管电学实验方法 MIL-STD-750-4w/CHANGE 3-2019

2、》 GB/T 29332-201 《半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双*晶体管（IGBT）》 GB/T29332-2012

3、GB/T29332-2012 《半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双*晶体管（IGBT）》 6.3.5

4、MIL-STD- 750-3w/CHANGE 1-2019 半导体设备晶体管电学实验方法 MIL-STD-750-3w/CHANGE 1-2019

5、ANSI/ESDA/JEDECJS-001:2017 器件级静电放电灵敏度测试-人体模式

6、GB/T 29332-2012 半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双*晶体管（IGBT） 6.3.5

7、MIL-STD-750F:2012 半导体分立器件试验方法 3407

8、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 3407

9、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

10、IEC 60747-9:2019 半导体器件-第9部分:分立器件 绝缘栅双*型晶体管 IEC 60747-9:2019

11、 GB/T 29332-201 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双*晶体管（IGBT） GB/T 29332-2012

12、MIL-STD- 750F:2012 半导体分立器件试验方法 MIL-STD-750F:2012

13、JESD 24-11-1996 功率场效应管栅*电阻测试方法 JESD24-11-1996

14、IEC 60747-2:2016 半导体器件 分立器件 第2部分：整流二*管 6.1.6

15、IEC 60747-2:2016 半导体器件 分立器件 第2部分：整流二*管 IEC 60747-2:2016

16、IEC 60747-9:2019 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双*晶体管 6.3.9

17、JJG(电子) 310007 绝缘栅双*型晶体管直流参数测试系统检定规程

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