半导体集成电路-TTL电路检测机构公司

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检测报告图片

检测项目参考：

输入低电平电流I_IL、输入钳位电压V_IK、输入高电平电流I_IH、输出低电平电压V_OL、输出短路电流I_OS、输出高电平电压V_OH、输出高阻态电流I_OZ、静态条件下的电源电流、电源电流I_CC、输入电流I_I、输出低电平电源电流I_CCL、输出高电平电源电流I_CCH、功能测试（静态测试、动态测试）、延迟时间、输入钳位电压、输出低电平电压、输出短路电流、输出高电平电压、输出高阻态电流、功能测试、电源电流、输入低电平电流、输入高电平电流、输出高阻态时低电平电流I_OZL、输出高阻态时高电平电流I_OZH、正向阈值电压下的输入电流I_T+、负向阈值电压下的输入电流I_T-、输出低电平时电源电流I_CCL、输出高电平时电源电流I_CCH、输入低电平电压、输入高电平电压、输出高阻态时低电平电流、输出高阻态时高电平电流、稳定性烘焙、输入电流、输出低电平时电源电流、输出高电平时电源电流、传输时间、功能测试：（静态测试、动态测试）、延迟时间t_{pd、电源电流ICC、电源电流IDD、结电容Cj、输入低电平电压VIL、输入低电平电流IIL、输入钳位电压VIK、输入高电平电压VIH、输入高电平电流IIH、输出低电平电压VOL、输出由低电平到高电平传输延迟时间tPLH、输出由低电平到高阻态传输延迟时间tPLZ、输出由高电平到低电平传输延迟时间tPHL、输出由高电平到高阻态传输延迟时间tPHZ、输出由高阻态到低电平传输延迟时间tPZL、输出由高阻态到高电平传输延迟时间tPZH、输出短路电流IOS、输出高电平电压VOH、输出高阻态时低电平电流IOZL、输出高阻态时高电平电流IOZH、电源电压、输出低电平电流、输出高电平电流、电源电流 ICC、输入低电平电流 IIL、输入电流 II、输入钳位电压 VIK、输入高电平电流 IIH、输出低电平时电源电流 ICCL、输出低电平电压 VOL、输出短路电流 IOS、输出高电平时电源电流 ICCH、输出高电平电压 VOH、输出高阻态时低电平电流 IOZL、输出高阻态时高电平电流 IOZH、工作状态时电源电流、建立时间、输入高电平电流/输入低电平电流、电源电流 ICC、输入低电平电流 IIL、输入电流 II、输入高电平电流 IIH、输出低电平时电源电流 ICCL、输出截止电流 IO（OFF）、输出高电平时电源电流 ICCH、输入簎位电压、输出低电平电压V、输出高阻态时高电平电流I、电源电流I、输出高阻态时低电平电流I、输出高电平电压V、正向阈值电压下的输入电流I、输入电流I、输出高电平时电源电流I、输出低电平时电源电流I、负向阈值电压下的输入电流I}

检测标准方法一览：

1、SJ/T10735-1996 半导体集成电路 ＴＴＬ电路测试方法的基本原理 2.25

2、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

3、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV 篇 第3 节6

4、GB/T  17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第IV篇 GB/T 17574-1998

5、GB /T 17574-1998 《半导体集成电路第2部分：数字集成电路》 第IV篇第3节第4.3条

6、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第IV篇 方法38

7、SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 2.25

8、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法1008.1

9、SJ/T10735-1996/ 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 2.25

10、GB/T17574-1998 半导体集成电路第2部分：数字集成电路 IV.2.4

第三方检测机构平台

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检测报告作用：

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检测流程

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