晶体硅检测价格参考

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检测报告图片

III-V族杂质含量、主参考面晶向、位错密度、单晶方片边长、厚度及总厚度变化、参考面位置、参考面长度、基体金属杂质含量、基硼电阻率、基磷电阻率、外延层位错、外延层厚度、外延层堆垛层错密度、外形尺寸、少数载流子寿命、尺寸范围、径向电阻率变化测量、晶向及晶向偏离度、氧化夹层、氧化诱生缺陷、氧浓度、直径及允许偏差、碳浓度、表面质量、规格、金属杂质和硼含量、导电类型、电阻率、钾、钠、钙、镍、铜、锌、铝、铁、铬、硼、铝、镓、磷、砷、锑、铟、碳、氧、铁、铬、镍、铜、锌、钠、铁、铬、镍、铜、锌、低辐照条件下的性能、初始稳定性试验、外观检查、接地连续性、*大功率确定、湿冻试验、湿漏电试验、湿热试验、热循环试验、紫外预处理试验、绝缘试验、静态机械载荷试验、低辐照度下的性能、冰雹试验、室外曝露试验、引出端强度试验、旁路二*管试验、*大功率确认、机械载荷试验、标准条件和标准电池额定工作温度下的性能、标准电池额定工作温度的测量、温度系数测量、湿漏电流试验、热斑耐久试验、稳定性试验、电势诱导衰减试验、低辐照度下性能测试、反向电流过载试验、引线端强度测试、接地电阻试验、*大功率测试、电势诱导衰减测试、温度和辐照度修正方法、外观、*大功率测量、户外曝晒试验、旁路二*管热性能、*大功率、标准测试条件和标称工作温度下的性能、温度系数、热斑耐久性试验、稳定试验、组件标称工作温度的测量、部分参数、静态载荷试验、PID试验、低温试验、修改、光伏组件盐雾蚀试验、入射角影响的测量、内部导线和载流部件、剪切试验、加速老化试验、压力试验、反向过流试验

1、GB/T 26071-2018 太阳能电池用硅单晶片 GB/T 26071-2018

2、GB/T 25074-2017 太阳能级多晶硅 GB/T 25074-2017

3、GB/T 13388-2009 硅片参考面结晶学取向 X射线测试方法

4、IEC TS 62804-1:2015 《光伏组件 - 电势诱导衰减检测的试验方法 **部分：晶体硅》 4

5、GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法

6、GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片 GB/T 12964-2018

7、GB/T 14142-2017 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法

8、UL1703:2002 平板光伏组件和电池板 24

9、GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法

10、GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法

11、GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法

12、IEC 61215-2（Edition 1.0）:2016 《地面用晶体硅光伏组件-设计鉴定和定型 第二部分：测试程序》 4.7

13、GB/T 25074-2017 太阳能级多晶硅 4.2

14、GB/T 26071-2018 太阳能电池用硅单晶片 5.7

15、IEC 61701-2011 光伏组件盐雾腐蚀试验

16、SEMI V1-0709 高分辨率辉光放电质谱法测量太阳能电池硅材料中痕量元素的方法

17、GB/T 12963-2014 电子级多晶硅 4.2.2

18、GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法 GB/T 1555-2009

19、IEC TS 62804-1: 2015 《光伏组件-电势诱导衰减检测的试验方法 **部分：晶体硅》 4

20、IEC61215-2:2016 地面用光伏组件-设计鉴定和定型 第2部分:试验程序 MQT07

检测费用价格：

因测试项目及样品数量、实验复杂程度不同，具体费用请联系我们确定项目后方可报价。

报告盖章资质：

CMA；CNAS， 中文报告、英文报告、中英文报告。

检测报告作用：

电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

检测报告有效期：

常规来说只要测试没更新，测试不变检测报告一直有效。一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。如果是用于过电商平台，一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

检测流程

以上内容为部分列举，仅供参考。百检也可根据您的需求设计检测方案。如果您对晶体硅检测有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。更多信息请咨询客服。