半导体材料检测检验机构

半导体材料检测流程是什么?半导体材料检测哪些项目？执行标准有哪些？检测报告有效期多久？做检测，找百检。百检第三方检测主要为公司企业、个体商户、高校科研提供检测服务。我们只做真实检测。

检测报告图片

电阻率(电阻系数)、基体金属杂质含量(钾、钠、钙、镁、铝、铬、铁、镍、铜、锌)、工业硅中铁、铝、钙含量、碳化硅单晶抛光片微管密度、碳化硅单晶晶型、表面金属杂质含量(钾、钠、钙、镁、铝、铬、铁、镍、铜、锌)、荧光粉测定(发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度)、选区电子衍射、表面粗糙度、平整度、结晶质量、方块电阻、迁移率和载流子浓度、外延片发光波长、表面缺陷、外延层厚度、外延层掺杂浓度

1、GB/T 32278-2015 碳化硅单晶平整度测试方法 GB/T 32278-2015

2、GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法

3、SEMIPV49-0613 基体金属杂质含量(钾、钠、钙、镁、铝、铬、铁、镍、铜、锌)

4、GB/T 1551-2009 硅单品电阻率测定方法

5、GB/T 14634.2-2010 荧光粉测定(发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度)

6、GB/T 30656-2014 碳化硅单晶抛光片 GB/T 30656-2014

7、GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法/

8、GB/T 29849-2013 光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法

9、GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法

10、GB/T 14634.1-2010 荧光粉测定(发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度)

11、SEMI PV49-0613 多晶硅基体金属杂质分析电感耦合等离子体质谱法

12、GB/T 5838.3-2015 荧光粉测定(发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度)

13、GB/T24582-2009 酸浸取-电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质

14、SJ 21535-2018 电力电子器件用碳化硅外延片规范 SJ21535-2018

15、GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法

16、SJ 21534-2018 微波功率器件用氮化镓外延片规范 SJ 21534-2018

17、GB/T 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片 GB/T 30854-2014

18、GB/T 23595.1-2009 荧光粉测定(发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度)

19、GB/T 14849.4-2014 工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量

20、GB/T 23595.3-2009 荧光粉测定(发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度)

报告资质：

CMA；CNAS， 中文报告、英文报告、中英文报告。

检测报告作用：

电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

检测费用：

因检测项目及样品数量、实验复杂程度不同，具体费用请联系我们确定项目后方可报价。

检测报告有效期：

常规来说只要测试没更新，测试不变检测报告一直有效。一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。如果是用于过电商平台，一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

检测流程

以上内容为部分列举，仅供参考。百检也可根据您的需求设计检测方案。如果您对半导体材料检测有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。更多信息请咨询客服。