表面安装和外引线同向引出晶体管、二极管检测单位

2024-03-14  |  来源:互联网 64浏览
摘要:表面安装和外引线同向引出晶体管、二极管检测流程是什么?表面安装和外引线同向引出晶体管、二极管检测哪些项目?执行标准有哪些?检测报告有效期多久?做检测,找百检。百检第三方检测主要为公司企业、个体商户、高校科研提供检测服务。我们只做真实检测。
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表面安装和外引线同向引出晶体管、二*管检测流程是什么?表面安装和外引线同向引出晶体管、二*管检测哪些项目?执行标准有哪些?检测报告有效期多久?做检测,找百检。百检第三方检测主要为公司企业、个体商户、高校科研提供检测服务。我们只做真实检测。

检测报告图片

检测报告

检测项目:

X射线检查、内部气体成份分析、内部目检、剪切强度、外部目检、密封、扫描电子显微镜(SEM)检查、粒子碰撞噪声检测(PIND)、芯片粘接的超声检测、键合强度、扫描声学显微镜检查、扫描电子显微镜(SEM)检查、粒子碰撞噪声检测、粒子碰撞噪声检测(PIND)

检测标准:

1、GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 1003

2、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

3、GJB4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1003第2.8条

4、**电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006工作项目1003第2.11条 剪切强度

5、**电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006工作项目1003第2.8条 内部目检

6、GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97

7、**电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006工作项目1003第2.9条 键合强度

8、GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 方法 2070、方法2075

9、**电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006工作项目1003第2.6条 密封

10、**电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006工作项目1003第2.5条 粒子碰撞噪声检测

11、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 2030

12、**电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006工作项目1003第2.2条 外部目检

报告资质:

CMA;CNAS, 中文报告、英文报告、中英文报告。

检测报告作用:

电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

检测费用:

因检测项目及样品数量、实验复杂程度不同,具体费用请联系我们确定项目后方可报价。

检测报告有效期:

常规来说只要测试没更新,测试不变检测报告一直有效。一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。如果是用于过电商平台,一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

检测流程

检测流程

以上内容为部分列举,仅供参考。百检也可根据您的需求设计检测方案。如果您对表面安装和外引线同向引出晶体管、二*管检测有严格要求,不妨考虑选择我们的检测服务。更多信息请咨询客服。