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IPo特性、IV特性、PD反向击穿电压、PD暗电流、内部目检、粗检漏、细检漏、阈值电流

1、YD/T 701-1993 半导体激光二*管组件测试方法 YD/T 701-1993

2、IEC 60068-2-17-1994 基础环境试验程序 第2部分：试验-试验Q：密封 3

3、GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 1202 2.7

4、IEC 60068-2-17-1994 基础环境试验程序 第2部分：试验-试验Q：密封 IEC 60068-2-17-1994

5、YD/T 702-2018 PIN-FET光接收组件测试方法 YD/T 702-2018

6、YD/T 702-2018 PIN-FET光接收组件测试方法 A.2

7、YD/T 701-1993 半导体激光二*管组件测试方法 3.4

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