半导体  二极管检测第三方实验室

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1、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号（包括开关）和调整二*管 GB/T 6571-1995

2、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

3、GB/T 4023-2015 《半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二*管》 7.1.4

4、JESD51-14-2010 半导体器件结到外壳热阻瞬态双界面测试方法

5、GJB128A-1997/ 半导体分立器件试验方法 4023

6、GB/T 4023-2015 《半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二*管》 GB/T 4023-2015

7、GJB 128A-1997 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997

8、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

9、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号（包括开关）和调整二*管 第Ⅳ章第1节4.2.3、4.2.4

10、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 112

11、MIL-STD- 750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F

12、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 1014.2

13、GB/T 2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q：密封

14、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009

15、GJB128A-1997 《半导体分立器件试验方法》 方法4016

16、GB/T4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二*管 7.1.2、7.1.4

17、MIL-STD-750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 3101.4

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