双极性晶体管检测项目指标大全

2024-06-17  |  来源:互联网 108浏览
摘要:双极性晶体管检测报告如何办理?双极性晶体管检测第三方检测机构有哪些?做检测,找百检。百检第三方检测平台汇集众多CMA/CNAS/CAL资质实验室及检测公司机构,主要为公司企业、个体商户、高校科研提供检测服务。我们只做真实检测

双*性晶体管检测报告如何办理?双*性晶体管检测第三方检测机构有哪些?做检测,找百检。百检第三方检测平台汇集众多CMA/CNAS/CAL资质实验室及检测公司机构,主要为公司企业、个体商户、高校科研提供检测服务。我们只做真实检测

检测报告图片

检测报告

检测项目指标一览:

共发射*小信号正向电流传输比、共发射*短路输入阻抗、共发射*开路反向电压传输比、共发射*开路输出导纳、共基*开路输出导纳、击穿电压、发射*-基*击穿电压、发射*-基*截止电流、基*-发射*饱和压降、正向电流传输比、集电*-发射*截止电流、集电*-发射*饱和压降、集电*-基*击穿电压、集电*-基*截止电流、共发射*正向电流传输比的静态值、发射*电流为零时的集电*-基*击穿电压、发射*-基*截止电流(反向电流)、基*-发射*饱和电压、集电*电流为零时的发射*-基*击穿电压、集电*-发射*饱和电压、集电*-基*截止电流(反向电流)、共发射*正向电流传输比(输出电压保持不变)(直流或脉冲法)HFE、发射*电流为零时的集电*-基*击穿电压V(BR)CEO、集电*-发射*截止电流(直流法)ICEO、集电*-发射*饱和电压VCEsat、部分参数、栅*漏电流IGES、集电*截止电流ICES、栅*-发射*阈值电压VGE(th)、集电*-发射*饱和电压VCEsat、集电*-发射*电压VCE

检测标准方法参考:

1、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分 双*性晶体管 GB/T 4587-1994

2、GB/T 4586-94 半导体器件分立器件和集成电路 第7部分:双*型晶体管 GB/T 4586-94

3、GB/T 4587-94 半导体器件分立器件和集成电路 第7部分:双*型晶体管 GB/T 4587-94

4、GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.1 GB/T4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范;半导体器件分立器件分规范 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.1 GB/T4589.1-2006 1

5、GB/T 4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.1 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范;半导体器件分立器件分规范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.1

6、GB/T 4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.2 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范;半导体器件分立器件分规范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.2

7、GB/T 4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.3 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范;半导体器件分立器件分规范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.3

8、 GB/T 29332-201 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双*晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012

9、GB/T 4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.4 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范;半导体器件分立器件分规范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.4

10、GB/T 12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.1 GB/T4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范;半导体器件分立器件分规范 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.1 GB/T4589.1-2006

11、GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双*性晶体管 第IV章第1节9.6

12、GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.2 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范;半导体器件分立器件分规范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.2 2

13、GB/T 4586-94 半导体器件分立器件和集成电路 第7部分:双*型晶体管 第Ⅳ章 第2 节 2

14、GB/T 4587-94 半导体器件分立器件和集成电路 第7部分:双*型晶体管 第Ⅳ章 第2 节 7

15、GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.1 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范;半导体器件分立器件分规范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.1 5

16、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分 双*性晶体管 第Ⅳ篇第1节第10条

17、GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.4 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范;半导体器件分立器件分规范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.4 4

18、GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.3 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范;半导体器件分立器件分规范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7、Ⅳ、1.9.3 3

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检测流程

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