接触式IC卡检测CNAS实验室

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初始化和电特性、卡尺寸、翘曲、弯曲韧性、温度、湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲、可燃性、耐化学性、剥离强度、粘连和并块、动态弯曲应力、动态扭曲应力、触点的尺寸与位置、触点的电阻、电磁场、触点的表面轮廓、机械强度、静电、X射线、紫外线、动态弯曲测试、动态扭转测试、静磁场

1、GB/T 17554.3-2006 识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备 GB/T17554.3-2006

2、ISO/IEC 7810-2019 识别卡 物理特性 5

3、GB/T14916-20065 识别卡 物理特性

4、GB/T17554.3-20065.1 识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备

5、GB/T17554.3-20065.2 识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备

6、ISO/IEC 14443-1-2018 个人识别用卡和安全装置 非接触式感应物体 第1部分：物理特性 4.1

7、GB/T 16649.1-2006 识别卡 带触点的集成电路卡第1部分：物理特性 GB/T 16649.1-2006

8、GB/T17554.3-2006 识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备 8

9、GB/T17554.3-20065.3 识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备

10、GB/T 17554.1-20065.8 动态弯曲测试

11、GB/T17554.3-20065.4 识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备

12、GB/T16649.3-20064 识别卡 带触点的集成电路卡第3部分： 电信号和传输协议

13、GB/T17554.1-20065.4 识别卡 测试方法

14、GB/T17554.3-20068 识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备

15、GB/T17554.1-20065.5 识别卡 测试方法

16、GB/T17554.1-20065.8 识别卡 测试方法

17、CJ/T 166-2014 建设事业集成电路（IC）卡应用技术条件 CJ/T 166-2014

18、GB/T 22351.1-2008 识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第1部分:物理特性 4.2

19、GB/T 16649.1-2006 识别卡 带触点的集成电路卡第1部分：物理特性 4.1

20、GB/T16649.1-20064.1 识别卡 带触点的集成电路卡第1部分：物理特性

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