D/A（数模转换）检测检验单位

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失调误差EO、微分线性EDL(DNL）、线性误差EL（INL）、输入低电平电压V_IL、输入低电平电流I_IL、输入高电平电压V_IH、输入高电平电流II_H

1、QJ 3044-1998 半导体集成电路模/数转换器和数/模转换器测试方法 QJ 3044-1998

2、SJ/T10741-2000 半导体集成电路模/数转换器和数/模转换器测试方法 第5.3条

3、QJ 3044-1998 半导体集成电路模/数转换器和数/模转换器测试方法 第5.1.2条

4、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路模/数转换器和数/模转换器测试方法 SJ/T10741-2000

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检测流程

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