芯片剪切强度检测CNAS实验室

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检测报告图片

芯片剪切强度

1、MIL-STD-1580B 电气、电子和机电元器件破坏性物理分析方法

2、GJB4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法

3、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法2017

4、MIL-STD-883K 微电子器件试验方法和程序 方法2019

5、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2019.2

6、MIL-STD-750F 半导体分立器件试验方法和程序 方法2017

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检测流程

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