X射线荧光分析仪检测

2023-03-16  |  来源:互联网 40浏览
摘要:0X射线荧光分析仪X射线荧光分析仪诞生至今,已发展到第三代。X 射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测,对产品和材料质量进行无损检测,对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要分析手段,也是材料科学、生命科学、环
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X射线荧光分析仪检测报告如何办理?测试哪些项目呢?检测费用价格是多少呢?下面小编为您解答。百检也可依据相应X射线荧光分析仪检测标准或者根据您的需求设计检测方案。做检测,上百检!我们只做真实检测。

检测周期

一般3-15个工作日,可加急。

检测方式

可寄样检测、目测检测、见证试验、现场检测等。

检测费用

具体根据X射线荧光分析仪检测检测数量和项目而定。详情请咨询在线客服。

检测产品

0X射线荧光分析仪简介

X射线荧光分析仪诞生至今,已发展到第三代。X 射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测,对产品和材料质量进行无损检测,对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要分析手段,也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时,X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面**仪器之一。

1X射线荧光分析仪产品特点

1、在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出较具感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。

2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰,

从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。

3、当某些元素的电子由高等级向低等级跃迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由

此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。

4、逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素

的含量较高或者能量较高,其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量

值减去Si能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。

5、在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。

检测流程

检测流程

以上X射线荧光分析仪检测相关信息,仅供参考,百检为您提供一站式的检测服务,包括:食品、环境、医疗、建材、电子、化工、汽车、家居、母婴、玩具、箱包、水质、化妆品、纺织品、日化品、农产品等。更多检测问题请咨询在线客服。