半导体集成电路(模拟开关)检测检验认证测试流程

2023-05-18  |  来源:互联网 18浏览
摘要:半导体集成电路(模拟开关)检测报告如何办理?测试哪些项目?测试标准有哪些?百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。我们只做真实检测。

半导体集成电路(模拟开关)检测报告如何办理?测试哪些项目?测试标准有哪些?百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。我们只做真实检测。

检测报告图片

百检检测图片

检测项目:

导通态漏电流IDS(on)、导通电阻Ron、导通电阻路差ΔRon、截止态源级漏电流IS(off)、截止态漏*漏电流ID(off)、输入低电平电流IIL、输入高电平电流IIH、静态工作电源电流IDD、关断时间、导通态漏电流、导通电阻、导通电阻温度漂移率、导通电阻路差、导通电阻路差率、开启时间、截止态源*漏电流、截止态漏*漏电流、电源电流、通道转换时间、开启时间/关断时间、截止态漏*漏电流/截止态源*漏电流、功能测试、模拟电压工作范围、双向开关截止电流、导通态漏电流IDS(on)、导通电阻路差△Ron、截止态漏电流ID(off)、导通态漏电流IDS(on)、导通电阻Ron、导通电阻路差△Ron、截止态源*漏电流IS(off)、截止态漏*漏电流ID(off)、输入低电平电流IIL、输入高电平电流IIH、静态工作电源电流、导通态漏电流 IDS(on)、导通电阻 RON、导通电阻路差 △RON、截止态源*漏电流IS(off)、截止态漏*漏电流ID(off)、输出低电平电压 VOL、输出高电平电压 VOH、静态条件下的电源电流 IDD、导通电阻RON、截止态源*漏电流IS(OFF)、截止态漏*漏电流ID(OFF)、逻辑端输入电流、导通态漏电流 IDS(on)、导通电阻 RON、截止态源*漏电流 IS(off)、截止态漏*漏电流 ID(off)、静态条件下的电源电流、导通态漏电流IDS(on)、导通电阻Ron、导通电阻路差△Ron、截止态源*漏电流IS(off)、截止态漏*漏电流ID(off)、截止态源*漏电、导通态漏*漏电流、电源电流IDD、输出高电平电压VOH、输出低电平电压VOL、开启时间ton、关断时间toff

检测标准:

1、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

2、GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法 5.8

3、GB/T 17574-1998 《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 第IV篇》 GB/T 17574-1998

4、GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 条款2.6

5、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第III篇第6节 5.1.1

6、GB/T14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法 5.6

7、GB/T14028-2018/ 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 5.4

8、GB/T 14028-2018 《半导体集成电路 模拟开关测试方法》 GB/T 14028-2018

9、GB/T 17574-1998 半导体集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节 2

10、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000

11、SJ/T 10741-2000(CMOS) 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 条款5.15

12、GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992

13、SJ/T10741-2000 5.9 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

14、SJ/T10741-2000 5.10 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

15、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

16、GB/T17574-1998 《半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路》 第Ⅳ篇 第2节 1

检测报告用途

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

检测报告有效期

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新,测试不变检测报告一直有效。如果是用于过电商平台,一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

检测费用价格

因测试项目及实验复杂程度不同,具体请联系客服确定后进行报价。

检测流程

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