半导体分立器件发光二极管检测检验认证测试流程

半导体分立器件发光二*管检测报告如何办理？测试哪些项目？测试标准有哪些？百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。我们只做真实检测。

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不工作器件、反向电流、发光强度、可焊性、外部目检、尺寸、峰值发射波长、引出端强度、机械冲击或振动、正向电压、温度变化、温度快速变化继之以湿热循环、电耐久性、稳态湿热、耐焊接热、辐射图、半强度角

1、GB/T 4937-1995 半导体器件 机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995

2、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分：信号(包括开关)和调整二*管 GB/T 6571-1995

3、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 3.1

4、GB/T 4589.1-2006IEC 60747-10:1991 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 4.3.1.1

5、GB/T 4589.1-2006IEC 60747-10:1991 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006IEC 60747-10:1991

6、GB/T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 8

7、GB/T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 GB/T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009

8、GB/T 4937-1995 半导体器件 机械和气候试验方法 第Ⅱ篇 2.1

9、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分：信号(包括开关)和调整二*管 第Ⅳ章 第1节 2

10、GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 GB/T 12565-1990

11、GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 3.4.1

12、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

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一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新，测试不变检测报告一直有效。如果是用于过电商平台，一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

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