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元器件试验检测报告如何办理?测试哪些项目?测试标准有哪些?百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。我们只做真实检测。
检测报告图片
温度贮存、温度循环、老炼试验、密封性检测、外部目检、粒子碰撞噪声检测、振动试验、冲击试验、湿热试验、高温反偏、低温测试、外观目检、密封、恒定加速度、温度循环(温度冲击)、高低温运行试验、高温储存 (稳定性烘焙) /高温寿命 (非工作)、高温寿命试验/老炼试验、高温测试、可焊性
检测标准:1、半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法1051 温度循环(温度冲击)
2、微电子器件试验方法和程序方法GJB548B-2005方法2020.1 微电子器件试验方法和程序方法
3、GJB 2888A-2011 有失效率等级的功率型电磁继电器通用规范 第4.8.3.2
4、GB/T2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封
5、微电子器件试验方法和程序方法GJB548B-2005方法1014.2 微电子器件试验方法和程序方法
6、GJB4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法
7、GJB128A-97方法2026 半导体分立器件试验方法
8、GJB7243-2011 **电子元器件筛选技术要求
9、GJB GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序方法GJB GJB 548B-2005
10、微电子器件试验方法和程序方法GJB548B-2005方法5004.2 微电子器件试验方法和程序方法
11、GJB 65B-1999 有可靠性指标的电磁继电器总规范 4.8.5条
12、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
13、GJB 65B-1999 有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-1999
14、GJB1513A-2009 混合和固体延时继电器通用规范 4.7.3条
15、GJB360B-2009 电子及电气元件试验方法
16、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 1008.1
17、半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法1071 密封
18、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序
19、GB/T 2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封
20、密封电磁继电器筛选技术条件QJ789A-955.2、5.3 密封电磁继电器筛选技术条件
检测报告用途商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。
检测报告有效期一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新,测试不变检测报告一直有效。如果是用于过电商平台,一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。
检测费用价格因测试项目及实验复杂程度不同,具体请联系客服确定后进行报价。
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