半导体集成电路（模/数转换器和数/模转换器）检测报告测试项目标准

半导体集成电路（模/数转换器和数/模转换器）检测报告测试哪些项目？测试标准有哪些？我们也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。我们只做真实检测。

零点误差、零点误差温度系数、失调误差、失调误差温度系数、增益误差、增益误差温度系数、线性误差、线性误差温度系数、微分线性误差、微分线性误差温度系数、基准电压、数字输出高电平电压、数字输出低电平电压、数字输入高电平电压、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、建立时间、转换时间、电源电压灵敏度、电源电流、功耗

1、QJ 3044-98 半导体集成电路 模/数转换器和数/模转换器测试方法 QJ 3044-98

2、SJ 20961-2006 集成电路 A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006

3、QJ 3044-98 半导体集成电路 模/数转换器和数/模转换器测试方法 5.1.13

4、SJ 20961-2006 集成电路 A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 5.2.1

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

检测流程