半导体集成电路（模/数转换器和数/模转换器）检测报告如何办理

半导体集成电路（模/数转换器和数/模转换器）检测项目有哪些?半导体集成电路（模/数转换器和数/模转换器）检测报告如何办理?检测标准方法是什么？百检第三方检测机构主要为公司企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务，报告CMA/CNAS/CAL资质，真实有效。

检测报告图片

零点误差、零点误差温度系数、失调误差、失调误差温度系数、增益误差、增益误差温度系数、线性误差、线性误差温度系数、微分线性误差、微分线性误差温度系数、基准电压、数字输出高电平电压、数字输出低电平电压、数字输入高电平电压、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、建立时间、转换时间、电源电压灵敏度、电源电流、功耗

1、QJ 3044-98 半导体集成电路 模/数转换器和数/模转换器测试方法 QJ 3044-98

2、SJ 20961-2006 集成电路 A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006

3、QJ 3044-98 半导体集成电路 模/数转换器和数/模转换器测试方法 5.1.13

4、SJ 20961-2006 集成电路 A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 5.2.1

以上内容为部分列举，仅供参考。如果您对半导体集成电路（模/数转换器和数/模转换器）检测有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。百检也可根据您的需求设计检测方案。具体请咨询客服。

检测流程