混合集成电路检测报告测试项目标准

混合集成电路检测报告测试哪些项目？测试标准有哪些？我们也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。我们只做真实检测。

外形尺寸、密封 粗检漏、密封 细检漏、恒定加速度、温度循环、稳定性烘焙、稳态寿命、粒子碰撞噪声检测、老炼、芯片剪切强度、键合强度、1dB压缩输出功率、功率增益、噪声系数、插入损失、调制度、输出功率、金属外壳绝缘电阻、隔离度、频率稳定度、频率范围、密封前老练、非破坏性键合拉力、内部目检、机械冲击、PIND、X射线照相、外部目检、耐溶剂性、可焊性、ESDS、内部水汽含量、元件剪切强度、引线牢固性、耐湿、盐雾、金属外壳绝缘、耐焊接热、随机振动、引线键合强度、交叉调整率、密封、效率、电压调整率、电流调整率、粒子碰撞噪声检测试验、绝缘电阻、老炼试验、输入电流、输出电压、输出电压温度系数、输出电流、输出纹波电压、X射线检查、剪切强度、扫描电子显微镜（SEM）检查、粒子碰撞噪声检测（PIND）、工作状态电源电流、待机状态时电源电流、电压驻波比、谐波抑制度、杂波抑制度、功率增益平坦度、动态条件下的总电源电流、静态条件下的电源电流、电源电流、密封前老炼、温度循环或热冲击、机械冲击或恒定加速度

1、GB/T 17574-1998 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998

2、GJB4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 1102/2.3

3、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法 方法2006

4、SJ20646-1997/ 混合集成电路DC/DC变换器测试方法 5.6

5、GJB 2438B-2017 混合集成电路通用规范 GJB 2438B-2017

6、SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法 方法5.4

7、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

8、GJB2438B-2017、表C.14 混合集成电路通用规范

9、GJB 2438A-2002 混合集成电路通用规范 表C.6

10、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法：1014.2

11、GJB 2438A-2002 混合集成电路通用规范 GJB 2438A-2002

12、GJB2438B-2017、表C.12 混合集成电路通用规范

13、GJB2438B-2017、 混合集成电路通用规范

14、DC/DC 混合集成电路变换器测试方法　 SJ20646-1997/

15、GB/T 17574-1998 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 第Ⅳ篇第3节1

16、GJB 2438B-2017 混合集成电路通用规范 表C.9

17、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法 5.11

18、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996

19、GJB2438B-2017、表C.9 混合集成电路通用规范

20、SJ 20646-1997 《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ 20646-1997

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因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

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