半导体器件集成电路存储器检测报告测试项目标准

半导体器件集成电路存储器检测报告测试哪些项目？测试标准有哪些？我们也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。我们只做真实检测。

功能测试（全0全1、5**A、互补读写、Match算法等）、动态条件下的总电源电流、存储器的特定时间、存储器的特定时间：写恢复时间、存储器的特定时间：读存取时间、延迟时间、输入低电平电流I_{IL、输入高电平电流IIH、输出低电平电压VOL、输出高电平电压VOH、输出高阻态时低电平电流IOZL、输出高阻态电流IOZ、静态条件下的电源电流、输出高电平电压VOH、输出低电平电压VOL、输入高电平电流IIH、输入低电平电流IIL、输出高阻态电流IOZ、输出高阻态时低电平电流IOZL、输出高阻态电流IOZH}

1、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

2、GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 测试方法 第3节 6

3、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第3节 6

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

检测流程