晶体管参数检测报告测试哪些项目?测试标准有哪些?我们也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。我们只做真实检测。
检测项目:基*-发射*饱和电压VBEsat、放大倍数hFE、集电*-发射*饱和电压VCEsat、发射*-基*击穿电压V(BR)EBO、集电*-发射*截止电流ICEO、集电*-发射*击穿电压V(BR) CEO、发射*-基*截止电流IEBO、集电*-基*截止电流ICBO、集电*-基*击穿电压V(BR)CBO、晶体管参数测量仪检定校准、晶体管参数测试仪检定校准、栅-源阈值电压VGS(th)、栅*截止电流IGSS、漏*截止电流IDSS
检测标准:1、GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分 场效应晶体管 第Ⅳ章 6
2、GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分 双*型晶体管 第Ⅳ章 第1节5
3、JJG(电子) 310002;JJG(电子)04004 半导体分立器直流参数测试系统检定规程 JJG(电子) 310002、BJ2911(HQ-1B)型晶体管综合参数测试仪检定规程 JJG(电子)04004
4、JJG725 晶体管直流和低频参数测试仪检定规程
5、JJF 1236 半导体管特性图示仪校准规范
检测报告用途商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。
检测费用价格因测试项目及实验复杂程度不同,具体请联系客服确定后进行报价。
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