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分立器件检测哪些项目?检测周期多久呢?检测报告如何办理?测试方法有哪些?报告有效期多久呢?做检测,找百检!
检测报告
低气压、可焊性、外部目检、密封、尺寸、引出端强度、快速温度变化、机械冲击、机械振动、标志的耐久性、热阻、电特性、电耐久性、电额定值验证、稳态湿热、老炼、耐焊接热、高温稳定性、高温贮存、引线键合剪切试验、粒子碰撞噪声检测试验、封帽前目检、微波分立和多芯片晶体管、高温寿命(非工作)、外观及机械检验、恒定加速度、芯片粘附强度、温度循环、键合强度、开帽内部设计目检、金属化扫描电子显微镜检查、晶体管内部目检(封帽前)、内部水汽含量、X射线照相检验、粒子碰撞噪声测试(PIND)、X射线检查、内部目检、内部气体成分分析、扫描电子显微镜检查、剪切强度
检测标准:1、GJB4027A-20061003.2.11 剪切强度
2、GJB128A-971018 半导体分立器件试验方法
3、GJB4027A-20061003.2.10 扫描电子显微镜检查
4、GJB128A-972076 半导体分立器件试验方法
5、GJB128A-972075 半导体分立器件试验方法
6、GJB128A-972070 半导体分立器件试验方法
7、GB/T 12560-1999(IEC 60747-11:1985) 半导体器件 分立器件分规范 3.5.1表4 C10
8、GJB128A-972072 半导体分立器件试验方法
9、GJB128A-972071 半导体分立器件试验方法
10、GJB128A-972037 键合强度
11、GJB128A-972077 半导体分立器件试验方法
12、MIL-STD-750E:20061051.6 半导体分立器件试验方法标准方法
13、GJB4027A-20061003.2.8 内部目检
14、GJB4027A-20061003.2.9 键合强度
15、GJB128A-971031 半导体分立器件试验方法
16、GJB128A-971071 密封
17、MIL-STD-750E:20062037.1 半导体分立器件试验方法标准方法
18、MIL-STD-750E:20062077.3 半导体分立器件试验方法标准方法
19、MIL-STD-750E:20062052.4 半导体分立器件试验方法标准方法
20、MIL-STD-750E:20062071.6 半导体分立器件试验方法标准方法
检测报告用途商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。
检测报告有效期一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新,测试不变检测报告一直有效。如果是用于过电商平台,一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。
检测时间周期一般3-10个工作日(特殊样品除外),具体请咨询客服。
检测费用因测试项目及实验复杂程度不同,具体请联系客服确定后进行报价。
检测流程