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检测项目参考:功率老练、振动试验、温度循环试验、温度贮存、集电*-发射*饱和电压、输入二*管正向电压、输入二*管反向电流、电流传输比、温度循环、电参数测试、老炼、集电*-发射*反向击穿电压、集电*-发射*截止电流、高温贮存、恒定加速度、密封、外观和机械检 查、微区元素定量分析、镀层厚度、低温存储试验、冷热冲击试验、微米级长度测量、温度偏置寿命试验、温度偏置寿命试验(脉冲)、温度循环偏置试验、温湿度偏压寿命试验、温湿度存储试验、高温存储试验、使用恢复的响应、使用电压的损失、功率因数、孤岛保护、接地、正常电压工作范围、正常频率运行范围、电压、 电流和频率、直流分量、短路保护、谐波和波形失真、过/欠电压和频率、闪烁、隔离和开关、亮度均匀性、阈值电压、对比度、对比率、响应时间、对比度视角、亮度、亮度视角、色度视角、镜面反射系数、漫反射系数、功耗、启动时间、色度、色度均匀性、视角范围内的色度均匀性、色彩再现性、图像残留、串扰、显示分辨率、光谱辐射亮度测量、灰度级测量、疵点测量、夜视兼容、介质耐压试验、切割试验、加速老化试验、反向过载电流试验、喷淋试验、拉力试验、按压试验
检测标准方法一览:1、GJB 8267-2014方法1005 对比度视角
2、GJB 8267-2014方法1006 色度视角
3、GJB 5435-20055.10 灰度级测量
4、GJB 8267-2014方法1003 对比度、对比率
5、JESD22-A104E(Oct 2014) 温度循环试验
6、GJB 5435-20055.11 色度
7、GJB 8267-2014方法1004 亮度视角
8、JESD22-A101D (July 2015) 温湿度偏压寿命试验
9、GJB 8267-2014方法1007 镜面反射系数
10、GJB 4508-2002 光电器件环境应力筛选通用要求 5.2.5
11、GJB 8267-2014方法1008 漫反射系数
12、GJB128A-97 半导体分立器件试验方法
13、GB/T 15651.3-2003/IEC 60747-5-3:1997 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003/IEC 60747-5-3:1997
14、GJB150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第 3 部分: 高温试验
15、GJB 5435-20055.13 疵点测量
16、JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015) 低温存储试验 JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015)
17、GJB 1394-19924.8.14 光谱辐射亮度测量
18、GJB 8267-2014方法5001 图像残留
19、GJB 8267-2014方法1001 亮度
20、GJB 8267-2014方法1002 亮度均匀性
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5、工业问题诊断:验证工业生产环节问题排查和修正;
检测流程
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