**电子元器件检测认证价格费用

**电子元器件检测测试哪些指标？检测报告如何办理？检测费用多少？检测周期多久呢？百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。

检测报告

光电器件DPA试验、半导体分立器件DPA试验、声表面滤波器DPA试验、开关DPA试验、敏感元件和传感器DPA试验、滤波器DPA试验、电容器DPA试验、电连接器DPA试验、电阻器DPA试验、石英晶体和压电元件DPA试验、线圈和变压器DPA试验、继电器DPA试验、集成电路DPA试验、X射线检查、内部气体成份分析、内部目检、制样镜检、外部目检、密封、引出端强度、扫描电子显微镜检查、玻璃钝化层的完整性检查、粒子碰撞噪声检测、芯片剪切强度、芯片粘接的超声检测、键合强度、声学扫描显微镜检查、扫描电子显微镜（SEM）检查、玻璃钝化层完整性检查

1、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法 方法209

2、GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1201、1202

3、GJB4027A-2006 扫描电子显微镜检查

4、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 4.6.3

5、GJB360A-1996 X射线检查

6、SJ 20527-1995 微波组件总规范 4.8.1

7、GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006

8、GJB 5914-2006 各种质量等级**半导体器件破坏性物理分析方法 4.3.2

9、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1018

10、SJ20527A-2003 外部目检

11、GJB360B-2009 X射线检查

12、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2010.1、2013、2014或2017.1

13、GJB548B-2005 扫描电子显微镜检查

14、GJB-4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析

15、GJB 8481-2015 微波组件通用规范 4.11.3

16、GJB 4152A-2014 多层瓷介电容器及其类似元器件剖面制备及检验方法

17、GJB128A-1997 扫描电子显微镜检查

18、SJ 20642-1997 半导体光电模块总规范 4.10.11

19、GJB548A-1996 外部目检

20、GJB91**-1997 外部目检

一般3-10个工作日（特殊样品除外），具体请咨询客服。

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一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

检测流程