**电子元器件检测认证机构

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1、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法 方法209

2、GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1201、1202

3、GJB4027A-2006 扫描电子显微镜检查

4、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 4.6.3

5、GJB360A-1996 X射线检查

6、SJ 20527-1995 微波组件总规范 4.8.1

7、GJB 4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006

8、GJB 5914-2006 各种质量等级**半导体器件破坏性物理分析方法 4.3.2

9、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1018

10、SJ20527A-2003 外部目检

11、GJB360B-2009 X射线检查

12、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2010.1、2013、2014或2017.1

13、GJB548B-2005 扫描电子显微镜检查

14、GJB-4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析

15、GJB 8481-2015 微波组件通用规范 4.11.3

16、GJB 4152A-2014 多层瓷介电容器及其类似元器件剖面制备及检验方法

17、GJB128A-1997 扫描电子显微镜检查

18、SJ 20642-1997 半导体光电模块总规范 4.10.11

19、GJB548A-1996 外部目检

20、GJB91**-1997 外部目检

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