双极型晶体管检测认证体系

双*型晶体管检测哪些项目？检测周期多久？报告有效期多久呢？我们严格按照国家和行业相关标准进行检测和评估，确保检测结果的准确性和可靠性。同时，我们还根据客户的需求，提供个性化的检测方案和报告，帮助厂家更好地了解产品质量和性能。我们只做真实检测。

检测报告示例

发射机-基*截止电流（直流法）I_EBO、发射*电流为零时的集电*-基*击穿电压V_(BR)CBO、基*-发射*饱和电压V_BESat、集电*-发射*截止电流（直流法）I_CEO、集电*-发射*饱和电压V_CESat、集电*-基*截止电流（直流法）I_CBO、集电*电流为零时的发射*-基*击穿电压V_(BR)EBO、部分参数、发射*-基*击穿电压、发射*-基*截止电流、基*-发射*饱和电压、正向电流传输比、集电*-发射*截止电流、集电*-发射*饱和电压、集电*-基*击穿电压、集电*-基*截止电流、集电*-射*击穿电压、共发射*正向电流传输比的静态值、基*-发射*电压、开关时间、集电*-发射*击穿电压、集电*-基射**击穿电压、发射*-基*击穿电压V(BR)EBO、发射*-基*截止电流IEBO、基*-发射*饱和电压VBEsat、放大倍数HFE、集电*-发射*截止电流ICEO、集电*-发射*饱和电压VCEsat、集电*-基*击穿电压V(BR)CBO、集电*-基*截止电流ICBO、击穿电压V_(BR)CBO、发射*-基*截止电流I_EBO、基*-发射*饱和电压V_BEsat、集电*-发射*截止电流I_CEO、集电*-发射*饱和电压V_CEsat、集电*-基*截止电流I_CBO、发射*-基*击穿电压V_(BR)EBO、基*-发射*电压V_BE、正向电流传输比h_21E、集电*-发射*击穿电压V_(BR)CEO、集电*-基*击穿电压V_(BR)CBO、噪声系数、时间参数、热阻(结-管壳)、特征频率、电压参数、电容参数、电流传输比参数、电流参数、负载上的输出功率、输出导纳参数、阻抗参数、集电*效率、电流输出比、集电*-发射*击穿电压V(_BR)CEO、共发射*正向电流传输比、发射*-基级击穿电压、集电*-发射级击穿电压、集电*-基级击穿电压、共发射正向电流传输比、集电*-基*击穿电压、发射*-基*击穿电压、共发射*正向电流传输比h_{21E、发射*-基*击穿电压V(BR)EBO、发射*-基*截止电流IEBO、基*-发射*饱和电压VBEsat、集电*-发射*击穿电压V(BR)CE、集电*-发射*截止电流ICEO、集电*-发射*饱和电压VCEsat、集电*-基*击穿电压V(BR)CBO、集电*-基*截止电流ICBO、基*-发射*击穿电压、共发射*正向电流传输比（h21E）、发射*-基*击穿电压（V(BR)EBO）、发射*-基*截止电流（IEBO）、基*-发射*饱和电压(VBEsat）、集电*-发射*击穿电压（V(BR)CEO)、集电*-发射*截止电流(ICEO)、集电*-发射*饱和电压（VCEsat）、集电*-基*击穿电压（V(BR)CBO）、集电*-基*截止电流（ICBO）、发射*—基*击穿电压、集电*—发射*击穿电压、集电*—基*击穿电压、共发射*正向电流传输比(输出电压保持不变)(直流或脉冲法）(h21E)、发射*-基*截止电流(直流法)(IEBO)、发射*电流为零时的集电*-基*击穿电压V(BR)CBO、基*-发射*电压(直流法)(VBE)、基*-发射*饱和电压(直流法) (VBEsat)、集电*-发射*截止电流(直流法)(ICEO、ICER、ICEX、ICES)、集电*-发射*饱和电压(直流法) (VCEsat)、集电*-基*截止电流(直流法)(ICBO)、集电*电流为零时的发射*-基*击穿电压V(BR)EBO、发射*-基*击截止电流、基*-发射*饱和压降、集电*-发射*饱和压降、共发射*正向电流传输比（输出电压保持不变）（直流或脉冲法） h21E、发射*-基*击穿电压 V(BR)EBO、发射*-基*截止电流 IEBO、基*-发射*饱和电压 VBE(sat)、集电*-发射*击穿电压(基*开路) V（BR）CEO、集电*-发射*截止电流 ICEO、集电*-发射*饱和电压 VCE(sat）、集电*-基*击穿电压 V(BR)CBO、集电*-基*截止电流 ICBO、发射*-基*击穿电压V（BR）EBO、发射*-基*截止电流IEBO、基*-发射*饱和压降VBEsat、基*-发射*饱和电压VBEsat、正向电流传输比H21E、正向电流传输比HFE、集电*-发射*击穿电压V（BR）CEO}

1、GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3011

2、GB/T 4587-1994 IEC 747-7-1988 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双*型晶体管 第IV章 第1节9.6

3、GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双*型晶体管 第Ⅳ章 第1节10.2

4、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双*型晶体管 第Ⅳ章第1节2.2

5、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3011

6、GB/T4587-94 半导体器件分立器件第7部分双*性型晶体管 第Ⅳ章第10.1、10.2条

7、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分 分立器件和集成电路总规范 4

8、GB/T 4587-1994/IEC 747-7-1988 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双*型晶体管 第IV章 第1节10.2

9、GB/T 4587-1994 半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双*型晶体管 第Ⅳ章 第1节

10、GB/T 4587-94(IEC 60747-7:1988) 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双*型晶体管 Ⅳ1.14

一般3-10个工作日（特殊样品除外），具体请咨询客服。

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

如果您对产品品质和安全性能有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。让我们助您一臂之力，共创美好未来。

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。如果是用于过电商平台，一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

严格标准：严格按照国家和行业相关标准进行检测和评估，确保检测结果的准确性和可靠性。

个性化建议：根据客户需求提供个性化的检测方案和报告，帮助厂家更好地了解产品质量和性能。

快速反馈：及时为客户提供检测结果和反馈，以便厂家能够采取相应的措施进行改进和完善。

便捷高效：提供灵活的服务方式和时间安排，以便客户能够便捷地获得所需的检测服务和支持。

经验丰富：我们拥有丰富的行业经验和知识储备能够为客户提供相关的检测服务支持。

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