半导体集成电路模拟开关检测认证流程

2023-11-22  |  来源:互联网 41浏览
摘要:半导体集成电路模拟开关检测项目有哪些?半导体集成电路模拟开关检测报告如何办理?检测标准方法是什么?百检第三方检测机构主要为公司企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务,报告CMA/CNAS/CAL资质,真实有效。

半导体集成电路模拟开关检测项目有哪些?半导体集成电路模拟开关检测报告如何办理?检测标准方法是什么?百检第三方检测机构主要为公司企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务,报告CMA/CNAS/CAL资质,真实有效。

检测报告图片

检测报告

检测项目参考如下:

模拟电压工作范围、导通态漏电流IDS(on)、导通电阻Ron、导通电阻路差△Ron、截止态漏电流ID(off)、电源电流、导通电阻、导通电阻路差、截止态源*漏电流、截止态漏*漏电流、导通态漏电流、开启时间/关断时间、截止态漏*漏电流/截止态源*漏电流、导通态漏电流IDS(on)、导通电阻路差ΔRon、截止态源级漏电流IS(off)、截止态漏*漏电流ID(off)、输入低电平电流IIL、输入高电平电流IIH、静态工作电源电流IDD、功能测试、导通态漏电流IDS(on)、导通电阻Ron、导通电阻路差△Ron、截止态源*漏电流IS(off)、截止态漏*漏电流ID(off)、输入低电平电流IIL、输入高电平电流IIH、静态工作电源电流、双向开关截止电流、关断时间、导通电阻温度漂移率、导通电阻路差率、开启时间、通道转换时间、导通态漏电流 IDS(on)、导通电阻 RON、导通电阻路差 △RON、截止态源*漏电流IS(off)、截止态漏*漏电流ID(off)、输出低电平电压 VOL、输出高电平电压 VOH、静态条件下的电源电流 IDD、导通电阻RON、截止态源*漏电流IS(OFF)、截止态漏*漏电流ID(OFF)、逻辑端输入电流、导通态漏电流 IDS(on)、导通电阻 RON、截止态源*漏电流 IS(off)、截止态漏*漏电流 ID(off)、静态条件下的电源电流、导通态漏电流IDS(on)、导通电阻Ron、导通电阻路差△Ron、截止态源*漏电流IS(off)、截止态漏*漏电流ID(off)、截止态源*漏电、导通态漏*漏电流、输出高电平电压VOH、输出低电平电压VOL、电源电流IDD、开启时间ton、关断时间toff、输出高电平电压、输出低电平电压

检测标准方法汇总:

1、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

2、GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 5.2

3、GB/T 17574-1998 半导体集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998

4、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第III篇第6节 5.1.1

5、GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 条款2.6

6、GB/T14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法 5.1

7、GB/T14028-2018/ 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 5.4

8、GB/T 14028-2018 《半导体集成电路 模拟开关测试方法》 GB/T 14028-2018

9、GB/T 17574-1998 半导体集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节 2

10、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000

11、SJ/T 10741-2000(CMOS) 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 条款5.15

12、GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992

13、SJ/T10741-2000 5.9 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

14、SJ/T10741-2000 5.10 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

15、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

16、GB/T17574-1998 《半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路》 第Ⅳ篇 第2节 1

以上内容为部分列举,仅供参考。如果您对半导体集成电路模拟开关检测有严格要求,不妨考虑选择我们的检测服务。百检也可根据您的需求设计检测方案。具体请咨询客服。

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