CMOS数字集成电路检测标准明细

CMOS数字集成电路检测项目有哪些?CMOS数字集成电路检测报告如何办理?检测标准方法是什么？百检第三方检测机构主要为公司企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务，报告CMA/CNAS/CAL资质，真实有效。

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电源电流、输入电流、输出低电平电压、输出低电平电流、输出高电平电压、输出高电平电流、功能检验、温度循环、稳定性烘焙、老炼试验、输出低电平电压VOL、输出高电平电压VOH、静态条件下电源电流、电源电流I_{DD、输入低电平电流IIL、输入电流II、输入高电平电流IIH、输出低电平电压VOL、输出低电平电流IOL、输出高电平电压VOH、输出高电平电流IOH、输出高阻态时低电平电流、输出高阻态时高电平电流、输入高电平电流、输入低电平电流、输入钳位电压VIK、输出高阻态电流IOZH、输出高阻态电流IOZL、输出短路电流IOS、输出高阻态电流Ioz}

1、GB/T 17574-1998 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998

2、GB/T 17574-1998 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 /方法41

3、IIH SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 IIH SJ/T10741-2000

4、SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 5.15

5、SJ/T 10805-2018 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T10805-2018

6、SJ/T10805-2000 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 5.10

7、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

8、GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 1010.1

9、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

10、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 Ⅳ.3.6

以上内容为部分列举，仅供参考。如果您对CMOS数字集成电路检测有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。百检也可根据您的需求设计检测方案。具体请咨询客服。

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